立式光學(xué)計 光學(xué)比較儀 JDG-S2數(shù)顯立式光學(xué)計

JDG-S2數(shù)顯立式光學(xué)計

一. 產(chǎn)品簡介

JDG-S2數(shù)字式立式光學(xué)計是一般是用標(biāo)準(zhǔn)器（如量塊）以比較法測量工件的尺寸。主要用于對五等量塊，量棒，鋼球，線形及平行平面狀精密量具和零件的外形尺寸作精密測量，本儀器頭部亦可作為一個獨立體，在科研，生產(chǎn)過程控制及在線測量等方面，對被測件作微小位移測量，及對非金屬如：薄膜、紙張等的厚度測量。

二. 技術(shù)規(guī)格

1.被測件最大長度：200 mm

2.直接測量范圍：10mm

3.最小顯示值：0.1 μm

4.測量力：(2±0.2) N 

5.示值變動性：0.1 μm

6.最大不準(zhǔn)確度：±0.25 μm

7.讀數(shù)方式：數(shù)字顯示

8.最大測量誤差：±(0.5+L/100)μm ，L是被測長度,以mm計 

9.儀器體積：300×170×410 mm

10.儀器重量：18 kg